RXV M7自動清潔度顆粒檢測儀

RXV M7清潔度顆粒檢測儀是精密設(shè)計的零部件清潔度分析系統(tǒng)，對過濾紙的殘留粒子進(jìn)行檢測，重要的是能對工件的清潔程度進(jìn)行可靠和再現(xiàn)性的評估。

清潔度顆粒檢測儀會自動將顆粒分為以下三類：

金屬顆粒：通常是關(guān)注的，并且是關(guān)鍵的顆粒。

非金屬顆粒，不含纖維：這些顆粒和金屬顆粒一樣是關(guān)鍵性污染物顆粒。

纖維：這些顆粒在測試的準(zhǔn)備和操作過程中是無法避免的。因此，即使有時候纖維是濾膜上大的顆粒，其關(guān)注度也是相對不高。

將顆粒預(yù)分為三類,可減少手動操作的工作量,并且關(guān)注所有與實際操作相關(guān)的顆粒。

通過自動偏振鏡機(jī)構(gòu)對濾膜進(jìn)行掃描，并實現(xiàn)對濾膜上金屬和非金屬顆粒 的統(tǒng)計和鑒別。 針對塑料、玻纖等同樣會產(chǎn)生反射的物體，系統(tǒng)會自動將其與金屬顆粒區(qū)分開，此方法有效的回避了被誤判為金屬顆粒的風(fēng)險。

RXV M7清潔度顆粒檢測儀設(shè)備介紹

全自動檢測操作：使復(fù)雜的檢測流程簡單化，檢測人員易上手，智能化檢測。上手簡單，易學(xué)習(xí)，對于未接觸過清潔度檢測的操作人員也能很快掌握。一次掃描即可獲得明場，偏光圖片，僅需兩步，即可得到檢測結(jié)果。

超高自動化程度：本系統(tǒng)采用新操作流程，一鍵操作，僅一次掃描。本系統(tǒng)可有效避免人為操作誤差，保證測量系統(tǒng)重復(fù)性，用戶無需復(fù)雜的專業(yè)知識，也可輕松完成清潔度檢測系統(tǒng)分析。

系統(tǒng)可自動設(shè)定符合 VDA19.1-2015/ISO16232-2018  規(guī)定的曝光時間和閾值：為了使分析結(jié)果具有可比性，VDA19.1-2015/ISO16232-2018 對于采用偏振鏡的光學(xué)顯微鏡區(qū)分顆粒和濾膜背景的圖像灰度的閾值參數(shù)，做了明確的規(guī)定：濾膜背景的灰度值須設(shè)置在整個灰度值的 55%±5%（通過調(diào)節(jié)光源亮度和相機(jī)曝光時間），二值閾值設(shè)定在灰度值的 70%，該灰度閾值左側(cè)的部分被識別為顆粒。（源于 VDA19.1-2015第 137-138 頁）。RXV全自動清潔度分析系統(tǒng)中，使用自動曝光時間設(shè)置和閾值設(shè)置進(jìn)行樣品檢測，即可符合上述標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的要求。同時，手動曝光和手動閾值的功能仍然保留，用戶可根據(jù)需要自由選擇。

SQL數(shù)據(jù)庫：常規(guī)分析系統(tǒng)只有顆粒數(shù)據(jù)及MAP圖儲存，無法數(shù)據(jù)統(tǒng)計。本系統(tǒng)增加了SQL數(shù)據(jù)庫統(tǒng)計功能，可選擇任意時間段查看并調(diào)出金屬顆粒、任意顆粒尺寸范圍數(shù)據(jù)，并以趨勢圖表述。可為生產(chǎn)過程控制提供直觀數(shù)據(jù)。

技術(shù)參數(shù)

光學(xué)系統(tǒng)：奧林巴斯長景深平行光學(xué)系統(tǒng)

調(diào)焦形式：粗微調(diào)

光源： 自動

偏光： 電動偏振光系統(tǒng)，一次掃描即可獲得兩種圖像

支持標(biāo)準(zhǔn)： ISO16232、VDA19.1，ISO4406、ISO4407，NAS1638、VDA19.2、GB/T0082、GB/T14039客戶自定義標(biāo)準(zhǔn)

清潔度專業(yè)軟件：

檢測內(nèi)容：自動檢測分辨出微粒類型（金屬、非金屬、纖維）； 評價參數(shù)（長度、正交寬度、面積、纖維長度）；顆粒數(shù)據(jù)庫管理，按時間段圖形顯示；

按照標(biāo)準(zhǔn) ISO16232 / VDA19 計算工件清潔度代碼（CCC）；濾膜覆蓋率，數(shù)據(jù)統(tǒng)計，顆粒數(shù)據(jù)圖形化具象化月報，年報

自動評級：軟件自動評判級別

告輸出：軟件自動導(dǎo)出報告，報告模板可修改定制，可按顆粒長度，寬度，面積排序出報告，可自動評判結(jié)果OK/NG

顆粒切分連接：具備手動/自動模式修改顆粒

數(shù)據(jù)庫: 數(shù)據(jù)統(tǒng)計，顆粒數(shù)據(jù)圖形化月報，年報，可為生產(chǎn)過程控制提供直觀數(shù)據(jù)

大圖顯示:明場和偏振圖全圖顯示，可實時觀察圖像拼接狀態(tài)，ID 自動定位，顆粒任意查看，圖像顆粒任意查看

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